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专业性能膜厚仪XAU
所属分类:膜厚仪镀层测厚仪
产品概述:全面升级下照式探测器款,多模态人机交互,搭载先进的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片及元器件,在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定。








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